【摘 要】
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随着集成电路设计技术的持续迅速发展，芯片的工作频率已提高到GHz级，微处理器的性能也已达到更高的层次。运算部件是高性能微处理器的核心部件之一，如何保障运算部件的功能
【机 构】
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国防科技大学计算机学院 长沙410073
【出 处】
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第十六届计算机工程与工艺年会暨第二届微处理器技术论坛
论文部分内容阅读
随着集成电路设计技术的持续迅速发展，芯片的工作频率已提高到GHz级，微处理器的性能也已达到更高的层次。运算部件是高性能微处理器的核心部件之一，如何保障运算部件的功能和性能达到预期要求，已经成为一个相当重要的课题。然而，传统的测试结构已经满足不了目前高速芯片的测试需求。本文以2GHz的高性能64位浮点乘加部件为例，对流水线的测试结构进行深入研究，提出了一种基于LBIST与JTAG相结合的流水线测试方案，该方案不仅能够增加高速浮点乘加部件的可控制性和可观察性，而且能够降低对测试设备的要求，节约测试成本。
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