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该报告从工程实际需要出发，介绍电子设备在研制中失效率下降（MTBF增长）的评定方法并提出了增长评定方程式。该评定方法的特点是充分利用各研制阶段样机的寿命试验和各种现场试验、测试的信息，进行变母体统计分析，导出一种更为通用的失效率计算方程式。利用该方程计算的失效率数值将更符合产品的实际。为了工程人员使用方便，该报告已编制了增长评定手册和增长评定计算机程序软盘。（本刊录）