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碳黑填充型聚合物基导电复合材料的导电机理较为复杂,有关模型较多,但尚难以进行定量化的说明或预测。逾渗理论是目前最为流行的宏观解释性理论之一。另外还有基于微观量子力学的隧道效应学说和场致发射效应。一般认为,当导电填料之间的间距大于10nm 时,导电通路的形成取决于粒子性杂质和空间电荷,而与导电填料无关。当导电填料间距在1.5-10nm 时,通路的形成主要取决于隧穿效应。在我们的实验中发现,当在炭黑(CB)/聚氨酯(PU)复合材料中加入一定量的乙二醇后,体系的体积电阻率会明显降低,因此我们对该复合体系的导电性能进行了研究,证明在体系中可以形成大量氢键,由该氢键连接的乙二醇链组成的导电通道是导致复合材料体积电阻率下降的主要原因。