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在1100V IGBT的基础上,引入电场中止技术和近表面层载流子浓度增大技术,通过不同参数下IGBT结构的模拟,分别定量分析了N-漂移区、N+缓冲层和空穴阻挡层的厚度和掺杂浓度对IGBT器件的转移特性、开态特性、开关特性以及耐压的影响,优化了IGBT结构参数,为IGBT结构的改进提供了参考。