【摘 要】
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对Zn3As2材料在研钵中研磨,共获取五种不同粒度分布的试样,研究了粒度分布对X射线粉末衍射仪测量结果的影响,发现:试样粒度的变化对衍射峰位置的影响不明显,但对衍射峰的高度和高测量角度范围内的半高宽影响显著.粒度的减小使衍射峰的高度普遍增加;粒度较大时高测量角度范围内的半高宽变化剧烈,当粒度足够细致时,半高宽的变化趋于平缓.
【机 构】
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昆明理工大学分析测试研究中心,昆明650093 云南省分析测试中心,昆明650093
【出 处】
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马尔文帕纳科第15届中国用户X射线分析仪器技术交流会
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对Zn3As2材料在研钵中研磨,共获取五种不同粒度分布的试样,研究了粒度分布对X射线粉末衍射仪测量结果的影响,发现:试样粒度的变化对衍射峰位置的影响不明显,但对衍射峰的高度和高测量角度范围内的半高宽影响显著.粒度的减小使衍射峰的高度普遍增加;粒度较大时高测量角度范围内的半高宽变化剧烈,当粒度足够细致时,半高宽的变化趋于平缓.
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