【摘 要】
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随着纳米制造工艺在高性能处理器制造中的广泛应用,集成电路特征尺寸进一步减小、电源电压不断降低和运行频率日益升高,使得瞬态故障日益成为处理器设计面临的严峻挑战。本文
【机 构】
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中国科学院计算机系统结构重点实验室,中国科学院计算技术研究所,中国 北京 100190 中国科学院研究生院,中国 北京 100190
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随着纳米制造工艺在高性能处理器制造中的广泛应用,集成电路特征尺寸进一步减小、电源电压不断降低和运行频率日益升高,使得瞬态故障日益成为处理器设计面临的严峻挑战。本文结合一款多核处理器,采用故障注入法进行瞬态故障敏感性分析.实验结果表明,多核处理器中寄存器文件、取指队列和重定序缓冲的瞬态故障敏感性较高,平均结构敏感因子接近15％,这对设计者如何提高多核处理器可靠性提供了一定的指导意义。
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