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随着FPGA集成电路制造技术的不断进步，晶体管特征尺寸已经进入到纳米级别，可靠性逐渐成为制约FPGA应用 的瓶颈。由于SRAM型FPGA包含大量存储单元，芯片受软错误的影响尤为严重。已有的针对FPGA软错误的可靠性设计方法 不同程度地存在面积开销大，计算复杂度高，需要芯片特定物理结构支持等缺点。
本文提出一种基于功能等价类的FPGA细粒度可靠性设计方法，将含有空余项的查找表替换为具有等价功能但逻辑屏蔽效应更强的查找表，从而提高电路的可靠性。实验结果表明，该方法能够降低电路的软错误率达21％以上，同时几乎不会带来任何额外的性能和面积开销。
本文提出一种基于功能等价类的FPGA细粒度可靠性设计方法，将含有空余项的查找表替换为具有等价功能但逻辑屏蔽效应更强的查找表，从而提高电路的可靠性。实验结果表明，该方法能够降低电路的软错误率达21％以上，同时几乎不会带来任何额外的性能和面积开销。