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本文针对sigma-deIta调制器提出了一种可使用全数字激励的可测性设计(DFT)结构.在测试模式下,通过复用调制器自身的反馈DAC,利用数字位流信号即可快速准确的完成对调制器SNR,DR,THD等参数的测试.而无需提供高精度模拟测试激励.文中对与单环二阶sigma-delta调制器和2-1MASH调制器进行了DFT设计,在理想无干扰以及引入噪声等非理想参数的情况下,通过MATLAB Simulink行为仿真验证了这种结构的准确性及高效性.