论文部分内容阅读
本文报道了一种新型的超短太赫兹脉冲电光取样装置。该设计基于近0°光学偏置。理论和数值模拟结果表明：与传统的设计比较，该装置不仅保持近0°光学偏置电光取样技术具有较高太赫兹光调制度的特点(即同样的探测功率可得到较强的探测信号)，而且具有与近45°光学偏置太赫兹电光取样仪相似的宽动态测量范围。另外，该装置中进入平衡式接收器的两束探测光路非常相似，所以在消除背底噪声、激光强度涨落和偏振变化引入的噪声以及由于入射光方向飘移和晶体的不均匀性引起的静态双折射相位的波动引起的噪声能力方面也和近45°光学偏置设计相当，明显强于近0°光学偏置设计。总之，本设计同时具有强的消噪声能力、宽的动态测量范围和高太赫兹光学调制度的优点，因此对于给定的太赫兹信号，该装置可显著提高测量信号的信噪比。