【摘 要】
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在超深亚微米工艺和GHZ的时钟频率下,长互连线之间的串扰现象严重,影响VLSI系统的整体性能.研究人员提出了MT故障模型,这种模型同时考虑了耦合电容和电感的影响,故障覆盖比较全面,但是存在严重的向量冗余.本文通过分析MT模型的向量冗余情况,将MT模型的向量冗余现象归纳成为3种类型.然后,在MT模型向量空间里,利用欧拉回路对测试向量进行组合优化得到MT精简测试集.最后,分别利用原始和精简的测试向量集
【机 构】
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中国科学院计算技术研究所,中国 北京 100190 中国科学院研究生院,中国 北京 100190
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在超深亚微米工艺和GHZ的时钟频率下,长互连线之间的串扰现象严重,影响VLSI系统的整体性能.研究人员提出了MT故障模型,这种模型同时考虑了耦合电容和电感的影响,故障覆盖比较全面,但是存在严重的向量冗余.本文通过分析MT模型的向量冗余情况,将MT模型的向量冗余现象归纳成为3种类型.然后,在MT模型向量空间里,利用欧拉回路对测试向量进行组合优化得到MT精简测试集.最后,分别利用原始和精简的测试向量集测试分别测试单网口系统的总线系统.实验表明,MT模型精简测试集合的向量数目大约是原始测试集合的1/4,测试时间是原始测试集合的1/3,采用精简测试集合可以减少总线串扰测试的时间和空间开销。
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