论文部分内容阅读
ＸＲＦ基本参数法无损检测多层膜厚度
【机 构】
：
电子科技大学
【出 处】
：
’94秋季中国材料研讨会
【发表日期】
：
1994年期
其他文献
低温低湿库贮藏种子是当今我国种子产业迈向现代化贮藏管理的重要举措。它能有效保证种子经营部门压库种子的安全越复，延长了种子的使用年限。自1992年起，我公司连续三年用低温
使用三维弹塑性大应变有限元计算软件ＡＢＡＱＵＳ，对金属薄膜与陶瓷基体组成的典型膜－基体系的纳米压入加载过程进行了模拟分析，提出了利用纳米压入仪测得的连续压入加载曲线确定陶瓷基体上
该文对浸没于液体工质中的金属薄膜在激光脉冲加热下薄膜及工质在沸腾前及停止加热后的温度场进行了数值模拟，得出了激光辐射强度与金属薄膜表面温升速率的关系；得出了不同温升
该文用光热技术对ＮｉＴｉ溅射薄膜进行了测量，探索了光热技术在薄膜无损检测方面运用的可行性。实验结果表明光热技术作为一种无损的检测方法可以应用于厚度范围为数微米的薄膜样品缺