【摘 要】
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文章介绍了可靠性试验中关于设计缺陷测试的分段失效模型,从概率论的观点讨论了系统通过测试的期望概率和测试成功概率,综合起来讨论了成功通过测试后需要的平均重复成功测试次数,并给出了该模型的分析结果.
【机 构】
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中国工程物理研究院电子工程研究所(四川绵阳)
【出 处】
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中国电子学会可靠性分会第十二届学术年会
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文章介绍了可靠性试验中关于设计缺陷测试的分段失效模型,从概率论的观点讨论了系统通过测试的期望概率和测试成功概率,综合起来讨论了成功通过测试后需要的平均重复成功测试次数,并给出了该模型的分析结果.
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