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微电子技术的飞速发展,对下一代光刻(NGL)技术提出了更高要求,其中极端远紫外光刻(EUVL)技术在各种光刻技术中最为引人注目.研究认为发射波长为6.x nm的极端远紫外(EUV)光源是另一种比较理想的选择.应用多组态Dirac-Fock方法,系统计算了钆(Gd)离子在6.3 nm波长附近的辐射跃迁波长和跃迁几率.