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对探头H面方向图，国内使用的E面电场积分法，在天线的远区副瓣引入较大误差。针对这种情况，提出一种新的基于边缘电流逼近法的探头方向图应用。通过在微波暗室对某频段天线进行实验测试，分别用国内传统的E面电场法与新方法进行计算比较。结果表明，此方法大大地改善了副瓣精度，为国内高精度测试打下了坚实的基础。