C及Al含量对Ti-Al-Si-C-N硬质薄膜微观结构和力学性能的影响

来源 :第5届海内外中华青年材料科学技术研讨会暨第13届全国青年材料科学技术研讨会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:eyx001
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用电弧增强磁控溅射方法(AEMS)制备了不同C及Al含量的Ti-Al-Si-C-N 硬质薄膜。发现Ti-Al-Si-C-N硬质薄膜具有非晶包覆纳米晶的复合结构。通过X 射线衍射,X 射线光电子能谱,透射电镜,显微硬度测 试等方法,研究了不同C及Al含量对薄膜微观结构及力学性能的影响。结果显示,薄膜硬度最高可达39GPa。 随着C 含量的提高,薄膜中非晶C 的含量也随之提高,薄膜的微观结构发生变化。当薄膜中C 含量增加到 32 at.%时,由于非晶C 的增多,抑制了纳米晶体的生长,导致晶体间间距增加,晶体与非晶界面的内聚能 减小,因此薄膜的硬度下降至31GPa。但随C 含量提高,薄膜摩擦系数降低,最低至0.25。随着薄膜中Al 含量的提高,由于Al 在TiN 晶格中的固溶度增加,晶体的晶面间距增大。薄膜的XPS分析显示,薄膜中 存在Ti-N 键,Ti-C 键,Al-N 键,C-C 键及Si-N 键,其中C-C 与Si-N 键为非晶C 及非晶Si3N4。
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