【摘 要】
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本文采用PI-4000 系列测试系统对GaN64 元线列焦平面进行测试,获取在不同频率下的线列焦平面性能,确定其最高工作频率,并对影响其最高工作频率的因素进行了分析,寻求提高最高工作频率,压缩读出时间,延长积分时间的途径。测试结果表明,GaN64元紫外焦平面的最高工作频率为1MHz,响应不均匀性小于2.5﹪,噪声为10-4V量级,100KHz时平均探测率达到8.58×109 cmHz1/2/W。
【机 构】
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传感技术国家重点实验室,中国科学院上海技术物理研究所,上海,200083 上海华龙信息技术开发中心
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本文采用PI-4000 系列测试系统对GaN64 元线列焦平面进行测试,获取在不同频率下的线列焦平面性能,确定其最高工作频率,并对影响其最高工作频率的因素进行了分析,寻求提高最高工作频率,压缩读出时间,延长积分时间的途径。测试结果表明,GaN64元紫外焦平面的最高工作频率为1MHz,响应不均匀性小于2.5﹪,噪声为10-4V量级,100KHz时平均探测率达到8.58×109 cmHz1/2/W。
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