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本文对一款雷达芯片电路采用基于扫描路径的可测性设计；在设计过程中采用IP隔离、时钟复用、实际时钟电路的特殊的处理等恰当有效的可测性设计策略，大大提高了该芯片电路的故障覆盖率，最终其测试覆盖率达到97％，完全满足设计指标。
基于扫描路径法的雷达芯片可测性设计
【摘 要】
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本文对一款雷达芯片电路采用基于扫描路径的可测性设计；在设计过程中采用IP隔离、时钟复用、实际时钟电路的特殊的处理等恰当有效的可测性设计策略，大大提高了该芯片电路的故障覆盖率，最终其测试覆盖率达到97％，完全满足设计指标。
【机 构】
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Research Institute of Electronic Science and Technology of UE STC ChengDu 610054
【出 处】
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电子科技大学
【发表日期】
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2008年5期
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