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该文提出了根据多幅不同光轴的PIV图象的粒子象斑实现粒子物点三维定位的透视成像定位原理和方法。精确确定透视平面与透视中心在空间的位置是实现粒子物点三维定位的关键，直接测定透视中心（照相机的光学中心）和透视平面在空间的精确位置用常规的测量手段和方法难以奏效，该文针对透视图象成象特征及规律进行了较为深入的研究探讨，这对于寻求精确计测透视中心和透视平面空间位置的方法有作重要意义。