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利用X射线数字成像技术对35kV及以下干式互感器的内部结构进行透照,可以在互感器不解体、主绝缘不破坏的情况下实现可视化无损检测,从而发现其内部异常或者缺陷.实验结果表明,该检测技术具有可行性、可靠性及有效性.
基于X射线的35kV及以下干式互感器检测研究
【摘 要】
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利用X射线数字成像技术对35kV及以下干式互感器的内部结构进行透照,可以在互感器不解体、主绝缘不破坏的情况下实现可视化无损检测,从而发现其内部异常或者缺陷.实验结果表明
【机 构】
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云南电网电力研究院,云南 昆明 650217
【出 处】
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2012年云南电力技术论坛
【发表日期】
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2012年期
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