序进应力下高频硅NPN晶体管3DG130可靠性评价及失效分析

来源 :中国电子学会第十二届全国青年学术年会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:f805616873
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通过序进应力加速寿命试验,对某重点工程所采用的高频硅NPN晶体管3DG130进行可靠性评价,进行170~320℃温度范围內序进应力加速寿命试验,得到样品在不同温度下电流增益、饱和压降等电参数的退化规律。根据失效敏感参数退化规律分析主要失效机理。
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