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序进应力下高频硅NPN晶体管3DG130可靠性评价及失效分析
序进应力下高频硅NPN晶体管3DG130可靠性评价及失效分析
来源 :中国电子学会第十二届全国青年学术年会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:f805616873
【摘 要】
:
通过序进应力加速寿命试验,对某重点工程所采用的高频硅NPN晶体管3DG130进行可靠性评价,进行170~320℃温度范围內序进应力加速寿命试验,得到样品在不同温度下电流增益、饱和压
【作 者】
:
刘鹏飞
郭春生
李秀宇
李志国
【机 构】
:
北京工业大学电子信息与控制工程学院可靠性研究室北京100022
【出 处】
:
中国电子学会第十二届全国青年学术年会
【发表日期】
:
2006年9期
【关键词】
:
失效机理
加速寿命试验
NPN
晶体管
序进应力
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通过序进应力加速寿命试验,对某重点工程所采用的高频硅NPN晶体管3DG130进行可靠性评价,进行170~320℃温度范围內序进应力加速寿命试验,得到样品在不同温度下电流增益、饱和压降等电参数的退化规律。根据失效敏感参数退化规律分析主要失效机理。
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