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采用电阻弛豫法研究了生长态和高温退火态MTG-YBCO双相体系中氧扩散.相对于生长态,高温退火态的电阻弛豫速率和氧化学扩散系数减小,扩散激活能增加.其原因是高温退火导致晶体缺陷重组和部分消除,减少了氧的快扩散通道.生长态和退火态MTG-YBCO在350~500℃温区的氧化学扩散系数为10<-5>~10<-4>cm<2>sec<-1>,它们的氧扩散激活能分别为~0.58eV和0.73eV.