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为了提高FTO(French Test Object) 客体重建的精度,提出了双轴不同照相布局的思想,并进行了数值实验。研究表明:两轴照相散射干扰很严重,且主要来于前保护器件,针对此设计了使用铅屏蔽块的新的照相布局。两轴照相信息的联合,重建得到了比单轴大角准直系统误差更小的结果。
双轴照相的模拟
【摘 要】
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为了提高FTO(French Test Object) 客体重建的精度,提出了双轴不同照相布局的思想,并进行了数值实验。研究表明:两轴照相散射干扰很严重,且主要来于前保护器件,针对此设计了
【机 构】
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中国工程物理研究院流体物理研究所 绵阳919-105信箱 621900
【出 处】
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四川省电子学会高能电子学专业委员会第五届学术交流会
【发表日期】
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2007年期
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