论文部分内容阅读
随着贴片密度增高以及元器件精细化，SMA检查难度越来越高，传统的ICT测试，由于测试夹具探针最小间距仅为1.27mm，导致ICT动能也力不从心，这时人力检测，也更加不可靠，故在上世纪90年代中期出现了自动光学测试仪——AOI，它是通过光源对SMA进行照射，用光学镜头将SMA反射光采集进计算机，经过计算机图象处理系统处理从而判断SMA上元件品种、位置及焊接质量。本文介绍了VCTA-A380型AOI3及VCTA-A380型AOT的性能。