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通过测试成本模型分析,芯片的测试时间是影响测试成本的重要因素之一,并行测试是降低测试成本的最有效的方法,但是在实际应用中若从测试机硬件结构和软件编程入手,也可以减少测试时间,降低测试成本.
降低SOC芯片测试成本的有效方法
【摘 要】
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通过测试成本模型分析,芯片的测试时间是影响测试成本的重要因素之一,并行测试是降低测试成本的最有效的方法,但是在实际应用中若从测试机硬件结构和软件编程入手,也可以减少
【机 构】
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北京华大泰思特半导体检测技术有限公司,中国北京100088
【出 处】
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第五届中国测试学术会议
【发表日期】
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2008年5期
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