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用微区分析X射线荧光光谱法测定Sr(NO)晶体中不同晶面Ni浓度

来源 :中国化学会第七届分析化学年会暨原子光谱学术会议 | 被引量 : 0次 | 上传用户：niuniuplayplay

【作 者】

：

王鹤泉 吴立军 

【机 构】

：

清华大学化学系(北京) 中科院物理所(北京)

【出 处】

：

中国化学会第七届分析化学年会暨原子光谱学术会议

【发表日期】

：

2000年10期

【关键词】

：

X射线荧光光谱 晶体杂质分析 

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