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过程层析成像（Process Tomography，简称PT）技术经过十多年的发展已逐步走向成熟，从实验室研究进入到工业应用研究阶段。其中，电学层析成象(ET)技术，由于其结构简单、响应速度快和成本低等特点，已在许多过程测量中取得成功。该文将集中讨论基于电学敏感原理的层析成象系统，在应用于工业过程的监测与控制时，所需要解决的若干挑生问题。