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Measurement and Characterization of Multi-scale Complex Surfaces Using Gaussian Process Model

来源 :第6届纳米操纵、制造与测量国际会议( the International Conference IEEE 3M-NANO | 被引量 : 0次 | 上传用户：q6748799

【作 者】

：

Mingjun Ren Lijian Sun Yuehong Yin 

【机 构】

：

Insitute of Robotics,Shanghai Jiao Tong University,China

【出 处】

：

第6届纳米操纵、制造与测量国际会议( the International Conference IEEE 3M-NANO

【发表日期】

：

2016年5期

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