电子设备电磁脉冲失效概率分布试验方法

来源 :第九届全国抗辐射电子学与电磁脉冲学术年会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:mawenbo111
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本文针对电子设备电磁脉冲评估提出了在不同耦合时间通过步进调节耦合强度获取设备失效概率,从而获得在整个工作过程失效概率分布的方法.提出了在电磁脉冲模拟器、TEM小室及实验室注入获取失效概率的试验方法构想。
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