论文部分内容阅读
本文针对大容量开关电器试验用Weil合成试验回路,给出了一种基于递推形式的电流零点预测方法,并且分析了这种电流零点预测方法的误差来源和误差消除的方法.为了验证该方法的准确性,本文研制了一个应用于合成试验回路的DSP测控系统,并对过零点预测算法进行了实验验证.实验测试表明本文所提的电流零点预测方法是准确的,相关测控系统的软硬件实现方式是可行的,具有实际应用价值.