同带泵浦结构是光纤激光器突破功率限制的重要方法,但在此结构的激光器中,光纤包层存在大量数值孔径(NA)较小的激光,这就要求各级之间的包层光剥离器(CPS)对小NA的包层光有较大的剥离度。化学腐蚀型剥离器是通过HF溶液对光纤进行腐蚀,粗化其包层表面,达到剥离包层光的作用。为测量光纤激光器中包层光剥离器对不同NA包层光的剥离效果,本文基于远场光强法改进了NA的测量系统,该系统由可调光阑、聚焦透镜和功率计等组成。通过直接测量输出光斑的直径和对应功率,消除了传统方法使用小孔光阑测量时,因光束中高阶模式存在,光斑某点功率不稳定产生测量误差的问题。本文用该系统测量了两种已标定NA的半导体激光器,其标准值分为:0.18、0.13,测量结果为:0.174、0.125,误差为4%,小于激光器给定的误差范围8%。并搭建了两套输出光NA分别为0.2、0.28的光纤激光器平台,对比测量了两激光器平台的剥离度和剥离器前、后的NA分布变化,如图1。实验结果证明剥离器对较大数值孔径光有较大剥离度。改变剥离器的其他相关参数,如增加腐蚀长度或增大光纤粗糙度,剥离器能够在不损耗信号光的基础上对较小NA包层光有较大的剥离度。