X-射线荧光光谱法测定进厂生铁中砷

来源 :中国金属学会第十三届分析测试学术年会——冶金及材料分析测试学术报告会 | 被引量 : 0次 | 上传用户:zhangsanjun
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本文通过试验分析了进厂生铁的特性,利用X-射线荧光光谱仪分析进厂生铁中砷,消除了化学分析方法对人体造成的危害,该方法简便、快速、准确、可靠.
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采用熔融法熔融样片,做了BrLβ1对Al Kα1,2线的谱线干扰校正,Si Kα1,2线对MgKα1,2线的谱线干扰校正,利用灼减量计算元素的含量,通过XRF荧光光谱法测定蛇纹石中SiO2,CaO,MgO,Al2O3,P2O5,取得满意结果.
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应用金属原位分析仪对铸坯的成分偏析状况进行了分析.铸坯试样为120 mm的中等厚度连铸坯.结果发现:铸坯中心偏析成岛状出现在中心线附近,且彼此孤立,中心成分起伏波动大,中心部位成分浓度不是每一处都比腰部或边缘高,甚至出现低于平均值的情况,但最大偏析一般在中心位置;中心部分的偏析范围与铸坯组织有很大关系,中心等轴状晶区域几乎和偏析带重合,既铸坯的宏观偏析与组织有明显的对应关系.此外,分析了C,P,S
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