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该文详细报导了用Ｘ射线衍射研究ｃ取向ＹＢＣＯ高温超导薄膜的结果。采用三种扫描方式（θ－２θ扫描、ω扫描、φ扫描）对在各种基片（ＳｒＴｉＯ３、ＬａＡｌＯ３、ＹＳＺ及ＭｇＯ）上生长的具有不同Ｔｃ及Ｊｃ值的ｃ取向ＹＢＣＯ薄膜进行结构分析测定，确定了ＹＢＣＯ高温超导薄膜的结构与性能之间的关系。对未知性能的ＹＢＣＯ薄膜，通过简单的Ｘ射线衍射对其结构进行分析测量，便可预测其超导性能，具有简单、快速及不破坏试样等优点。此外，还讨论了如何用Ｘ射线衍射判断ｃ取向ＹＢＣＯ高温超导薄膜外延生长的质量以及基片表面偏角和基片中的挛晶现象对ｃ取向ＹＢＣＯ高温超导薄膜生长的影响。