【摘 要】
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对相控阵超声二维面阵线性扫查时孔径的优化进行了研究.当使用二维面阵进行线性扫查时,孔径会影响检测的分辨率和效率，因此对孔径的优化研究是检测的关键环节。本文基于声场理论,建立了二维面阵空间脉冲声场模型;根据建立的脉冲声场模型,对不同孔径模式的声场分布、声场焦斑的大小以及可能出现的栅瓣进行了分析,提出了二维面阵线性扫查时孔径优化的方法;基于Pocket板卡的相控阵超声设备在不同孔径模式下对平底孔进行检
【机 构】
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北京航空航天大学机械工程及自动化学院 北京100191
【出 处】
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第十三届全国敏感元件与传感器学术会议
论文部分内容阅读
对相控阵超声二维面阵线性扫查时孔径的优化进行了研究.当使用二维面阵进行线性扫查时,孔径会影响检测的分辨率和效率，因此对孔径的优化研究是检测的关键环节。本文基于声场理论,建立了二维面阵空间脉冲声场模型;根据建立的脉冲声场模型,对不同孔径模式的声场分布、声场焦斑的大小以及可能出现的栅瓣进行了分析,提出了二维面阵线性扫查时孔径优化的方法;基于Pocket板卡的相控阵超声设备在不同孔径模式下对平底孔进行检测,并采集实验数据；利用采集的数据进行缺陷三维成像以及C扫成像,并用-6dB法对缺陷进行量化,比较分析不同孔径模式下检测的效果.研究结果表明：本文提出的二维面阵线性扫查时孔径优化的方法是可行的。
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