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载流子迁移率各向异性是有机半导体材料的内在属性之一.一直以来科学家都致力于研究电子材料本身分子特性与载流子迁移率之间的关系.但是由于有机半导体材料的种类多样性以及结构的复杂性,使得建立载流子各向异性的模型比较困难.我们发展了一套基于第一性原理的方法用于预测有机半导体晶体的各向异性空穴迁移率.提出了把有机半导体材料内部各堆栈方向的分子间电子耦合强度投影到外部载流子测量通道的方法,推导出了有机半导体材料载流子迁移率各向异性方程.