Advances in AFM Technologies and Applications in Dielectric Materials

来源 :第十六届全国电介质物理、材料与应用学术会议 | 被引量 : 0次 | 上传用户：zhangwilly

【摘要】

：

Nowadays,AFMs are capable of simultaneously characterizing high resolution topography together with physical properties such as quantitative mechanical mapping,magnetic domain structure,resistance/con

【作者】

：

Weigang Chen

【机构】

：

Bruker Nano Surfaces

【出处】

：

第十六届全国电介质物理、材料与应用学术会议

【发表日期】

：

2016年5期

【关键词】

：

AFM PFM Nanoscale

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