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非线性光学材料在激光、光电子、光通信等产业中占有非常重要的地位,并且在调制开关、远程通信及信息处理等领域也一直是加速发展的趋势。随着非线性光学晶体性能的改进以及新晶体的开发,对这些晶体的光学性能的测试一直是非常重要和基础的,且对于非线性光学晶体性能测试的方法也是在不断更新和完善。本文主要对下面的几种测量方法进行了研究:1.总结了传统单光束Z扫描技术的理论及测量原理,分析传统单光束Z扫描技术测量装置的优缺点。发现若样品位置能够固定不动,那么就可以测量在晶体上施加外电场、温度或压力等条件下的晶体的特性参