本论文重点研究了用于铜电阻测试仪的核心部件，它包括微控制器电路和基于FPGA的DDS模块。论文完成了铜电阻测量仪系统的总体结构设计，它包括采用飞利浦公司的32位ARM7微控制器、基于FPGA的DDS模块、测量电路、键盘输入及显示模块。通过键盘和液晶配合，设置待测电阻的测量条件并送微控制器储存。微控制器将命令通过SPI总线向DDS模块发布，从FPGA输出的直接数字频率合成的正弦波信号控制电阻测量部分的恒流源电路。论文完成了微控制器、键盘输入及显示模块部分的软硬件设计和实现。重点研究并完成了电阻测量仪系统的核心部分DDS模块的电路设计。采用硬件描述语言，完成了DDS系统中的相位累加器、查找表ROM、D/A转换器和低通滤波器四部分的设计。在相位累加器的设计中，为提高运算速度，加法器采用四级流水线技术，累加结果的高10位作为寻址查找表的地址；为等效增大查找表ROM的容量，存储数据时利用波形的对称性存储其四分之一个周期，其他地址通过变换来进行查找；利用波形选择器对将输出的波形做出选择。采用高速D/A转化器DAC908进行D/A转换；低通滤波器采用七阶的椭圆型滤波器。论文完成了铜电阻测试仪中除用户定制的电阻电路的各个功能模块。实现了微控制器和DDS模块的功能。论文工作为铜电阻测试仪的研制打下了良好的基础。