本论文研究介质材料电磁参数测试方法以及相关DRO设计，主要工作包括三个方面：介质材料介电常数测试方法研究及软件实现、薄膜材料电磁参数测试方法研究、C波段介质振荡器研制。　　 在介质材料介电常数测试方法研究及软件实现中，首先，介绍了传输法，使用matlab编程软件对传输法进行了验证，对影响误差的因素进行了分析，提出了测试准则。然后,对测试样品所在的矩形波导截止频率、谐振频率、尺寸和材料介电常数、尺寸、位置与传输系数、反射系数之间的关系进行研究，使用Newton-Gauss迭代法求解所涉及的一系列方程组，在VC++平台上编写出低损耗材料介电常数测试的软件，从而实现了一个完整的测试工具。该测试工具可对低损耗材料的介电常数进行准确、迅速、宽频带检测，具有较强实用性。　　 在薄膜材料电磁参数测试方法研究中，首先，使用HFSS、IE3D研究发现，薄膜材料的电磁参数与双层基板微带线测量装置及共面波导测量装置传输系数的相位变化有很好的关系。同时，共面波导测量装置传输系数的相位对薄膜材料的电磁参数更敏感。然后，提出了使用共面波导装置测量薄膜材料介电常数或磁导率的方法，即通过比较仿真结果与实测结果，来确定薄膜材料的介电常数或磁导率。该测量装置及方法避免了复杂的计算，可靠易操作。　　 在C波段介质振荡器研制方面，采用CST软件建立DR与微带线的耦合模型，将仿真结果的S参数文件导入Microwave Office软件进行仿真优化。并使用AutoCAD软件设计屏蔽盒以及Protel软件制版。制版焊接元器件后，使用罗德施瓦茨公司的频谱仪进行调试和测试，测试表明实测结果与仿真结果较好地吻合。该设计方法可对C波段低噪声介质振荡器进行准确、迅速的研制，不需要复杂调试，具有较强实用性。