电子器件噪声理论表明低频噪声对电子器件或材料内部的各种缺陷和损伤非常敏感,因而电子器件的低频噪声可以用来表征器件的质量和可靠性,分析失效机理,进行产品筛选。上述各种低频噪声应用的实现要以低频噪声测试技术为基础,所以国内外该领域中的研究者们一直致力于低频噪声测试技术的创新和改进,并且已取得了显著的成果。然而随着低频噪声应用范围不断扩大,其应用范围所涵盖的器件也变得多种多样,从而对低频噪声测试技术提出了挑战,要求噪声测试技术能胜任各种类型器件的测试。当低频噪声的应用延伸至诸如绝缘介质材料、高阻值电阻器、电容器等各种等效阻值相当高的高阻器件时,目前已有的低频噪声测试技术已无法胜任这些高阻值器件的噪声测试。因此,对高阻器件低频噪声测试技术进行研究具有重要意义。本文在总结了国内外高阻器件低频噪声测试技术现状和噪声测试需求的基础上,设计了针对高阻器件新的电流噪声测试技术和新的电压噪声测试技术。新的电流噪声测试技术解决了已有技术中信号的功率谱密度频带窄和数据中的信息无法充分提取的问题;新的电压噪声测试技术解决了已有技术中噪声信号进入放大器之前衰减严重,无法测试单一器件的噪声和放大器无法使用直流耦合的缺陷。本研究利用新的测试技术对高阻值厚膜电阻器和有机聚合物钽电容器的低频噪声进行了测试,以此来对测试技术进行了验证。同时,本文将新的高阻器件低频噪声电压测试技术实际应用于高阻厚膜电阻器的爆裂噪声测试和分析,得到其爆裂噪声与偏压的关系,并通过对该关系进行物理解释,提出了一种降噪的方法。本文同时将电流噪声测试技术应用于有机聚合物钽电容器的噪声研究,发现并解释了噪声与该类器件损伤程度之间的一种特殊关系和有机聚合物钽电容中特殊的漏电流输运机制。