随着现代工业规模的不断扩大、深化,综合性能优异的粗晶材料在国防、航空航天、核电等领域的应用愈来愈多。粗晶材料由于自身微观结构的特点,使其对超声波的散射非常强烈,引起严重的材料噪声和信号衰减,严重降低了超声检测的灵敏度和信噪比,到目前为止,粗晶材料的检测仍然是超声检测领域的一大难题。本文的重点为检测用窄脉冲探头的研制及其频率变化所产生的影响规律。主要工作为：测定了制作探头所需的基础数据,确定了环氧树脂和钨粉的质量配比,制订了探头的制作工艺,通过高阻抗背衬和匹配电路的双重作用,可以获得较为理想的窄脉冲探头。测定了粘贴背衬、匹配电路对不同频率压电晶片声学性能的影响,发现晶片频率较低时受背衬、电路的影响小于高频晶片。对不同频率探头的性能进行了对比,发现随着探头频率的增加,其探伤灵敏度逐渐降低,即低频探头的探伤性能优于高频探头。与国内外的同种探头横向对比结果表明,自制的窄脉冲探头的脉冲宽度、脉冲周期数等性能参数要优于国产的商用探头,但与国外先进探头仍存在一定的差距。如何进一步缩短脉冲持续时间,提高探头灵敏度是下一步工作的重点。