本文首先介绍了集成电路的发展及集成电路自动测试技术的发展概况和重要性。集成电路测试伴随集成电路的发展而发展,并贯穿集成电路的研发、设计、生产和应用等各个阶段。由于我国集成电路产业起步较晚,与国外有着较大的差距,导致我国集成电路测试产业发展起步也较晚,70年代国内才开始了集成电路自动测试仪的研制工作,80年代后期国产集成电路自动测试仪的水平得到很大提高,但研发更高级的集成电路自动测试仪和研究相关测试理论都是亟待解决的问题。数字集成电路测试内容包括逻辑功能测试、直流参数测试和交流参数测试。本文介绍了逻辑电路测试的测试原理和硬件架构;对直流参数测试的两种方式(加压测流和加流测压)进行了剖析。在国内,集成电路的入库筛选测试日益被重视、在军工单位已经形成了一套比较严格的测试筛选标准,但这种用户级的测试仍然受到了很多限制,特别是在测试微处理器、微控制器等大规模集成电路的时候,由于该类器件内部结构复杂,和逻辑门级原理图的不公开性,如何高效的开发测试程序和生成测试向量成为一大难题。通过研究和论证,构造功能级的故障模型,测试指令是最有效的方法之一,即编写汇编测试程序,使被测微处理器、微控制器运行设定的测试程序,观察数据端口的输出状态,达到测试的目的。但是要将汇编测试程序转变成测试向量是一件非常困难的事情。针对这种情况,本论文采用学习法,高效的实现了自动生成测试向量,极大的提高了开发微处理器、微控制器测试向量及测试程序的工作效率。但学习法的实施对自动测试系统本身的硬件结构和功能,以及具体器件的辅助电路有很高的要求。所以本文对学习法的实现原理和硬件结构设计做了系统的说明:包括原理结构、定时电路设计、驱动/比较电路设计,编写测试向量及图形文件反编译等,并以N80C196KB为例,实际运用学习法分模块完成了指令系统、定时器、A/D转换器等项目的测试。 学习法的成功运用,一是大大方便和提高了整机系统研制单位或科研机构开发微处理器、微控制器类大规模集成电路测试程序的效率;二是从硬件架构设计和测试理论上为国内同行在研发更高性能集成电路自动测试仪提供一个建议和参考。