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本文提出并实现改进的偏振模色散测量方法以及实现改进的双折射和偏振模色散分布式测量方法。
本文提出了计算任意折射率分布截面双折射大小以及偏振轴方向的方法，利用不动点理论给出了单模光纤中针对某一物理过程的偏振主态存在的一般性证明；利用微分几何理论描述由于某一物理过程的存在引起的偏振态的演化，从而给出这一物理过程的几何描述和几何性质。在此基础上，提出了适用于任何偏振矢量测量的微分几何参数方法，分析了偏振光时域反射计测量光纤内双折射分布的原理，给出利用单输入偏振态测量光纤内线双折射和双折射轴角度增量分布的方法，并进行实验；给出了测量光纤内扭绞导致的圆双折射分布的方法；在斯托克斯空间，给出了有偏振相关损耗时，光纤内线双折射和线偏振相关损耗分布的测量原理。