本论文分别介绍了两套测试系统：光、电测试系统Ⅰ型和光、电测试系统Ⅱ型的硬件电路设计和软件程序编制两部分。 光、电测试系统Ⅰ型主要是针对PLEC(PolymerLightEmittingCell)而设计的。为研究PLEC器件中离子对瞬态过程的贡献，考虑到离子的迁移率较低，通常在102S-104S范围的采样速度已经足够了。因此该系统中使用了打印机并行口的SPP模式进行采样；使用89C51产成输出信号；用速度为100K/S的A/D转换芯片AD1674完成模数转换；用光电倍增管GDB-159完成光电信号转换。光、电测试系统Ⅰ型可以在10KHz频率下，双通道采样，完成对PLEC器件的光、电瞬态响应特性的测量。 为了进一步将测试对象扩展到整个聚合物电致发光器件领域，研究其中的速度更快电子响应过程，并将其与离子响应过程进行对比，进行了光、电测试系统Ⅰ型的改进型——光、电测试系统Ⅱ型的研究。它主要使用了一些比较先进的技术：FIFO(FirstInFirstOut)高速存储芯片、打印机并行口EPP工作模式、CPLD(ComplexProgrammableLogicDevice)芯片及相应的硬件设计语言Verilog-HDL等。目前光、电测试系统Ⅱ型能够自定义采样频率1Hz～1，000KHz以上，能够适应较高速度的电致发光器件性能的研究。