随着微电子技术的快速发展,电子器件的集成度在不断提高,这对器件的散热和可靠性带来了潜在的问题。面对这一问题,研究人员一方面不断探索新的散热技术,另一方面也在寻找新型导热材料。纳米材料由于尺寸效应和表/界面效应常常呈现出独特的性质,是新材料研究的重要方向之一。然而,纳米材料的热学性质常有别于其宏观块体,因而需要通过实验对其热学性质（如热导率）进行测定和修正。当前已有多种方法用于测量纳米材料的热导率,如悬空微桥法、拉曼光谱法、时域热反射法等,但这些方法依然面临许多挑战,如局域温度测量精度不高、样品参数及结构演化与热学性质无法动态关联等,这导致不同方法得到的结果会出现较大差异。针对该问题,本文提出一种基于透射电镜测量一维纳米样品热学、电学性质的创新技术方法,该方法主要通过微电极芯片的加工制造并搭配加热芯片实现对一维纳米样品的电学、热学性质的原位测试;结合透射电镜对样品形貌、结构参数的同步精细表征,最终实现纳米样品的形貌结构和对应电学、热学特性的直接、准确关联,从而有利于分析纳米样品新异热学性质及变化规律。本论文主要工作和取得的结果如下。1、兼容透射电镜的微电极芯片的设计制造及电学测量应用。基于微纳加工工艺研制了微电极芯片,其中电极梳指最小宽度为11.4μm,对电极最小悬空间距为4.5μm,该电极芯片可以兼容电镜样品杆、用于透射电镜测试分析。同时,论文对微电极芯片的电极电阻和适用电压范围进行了测试分析,并以碲纳米线为例,利用微电极芯片测量其电学参数,结合尺寸结构推算得到实验中的两根碲纳米线的电导率分别为540.1S/m与2005.2S/m。2、碳纳米管的熔模铸造制备及其热传导性质测量。以碲纳米线为模板,利用熔模铸造技术实现了在透射电镜热芯片上原位构建碳纳米管,通过热芯片的可控加热,把碲纳米线模板大部分升华而只保留小段作为温标,构建了能测量碳纳米管热导特性的实验方案。通过可控的脉冲式加热并结合透射电镜实时观察温标变化,获得了碳纳米管的热传导特性,结合碳纳米管的结构参数推算得到实验中的两根碳纳米管的热导率约为1.2×10-7W/（m·K）～1.9×10-6W/（m·K）与3.3×10-6W/（m·K）～4.2×10-6W/（m·K）。论文所设计的基于透射电镜的一维纳米线电学、热学性质的原位测量方法有利于直观获得纳米样品的电导和热导参数,有助于研究纳米样品电学、热学性质的尺寸效应问题。