本文通过建立具有几何沟槽表面的液晶盒模型,运用Landau-de Gennes理论进行推导得到平衡态的方程;再对方程进行参数选择和数值模拟,得到了几何沟槽表面的向列相液晶盒内缺陷的变化规律及沟槽的几何因素对液晶盒内缺陷的影响:一、液晶盒内的缺陷有两种形态:面缺陷和体缺陷。面缺陷是由沟槽表面的指向矢不连续性引起的,在每个沟槽的波峰、波谷的表面或上方分别形成-1/2面缺陷、+1/2面缺陷。-1/2体缺陷是由左右边界作用产生的指向矢不连续引起的,在整个液晶盒内只出现一个,影响整个液晶盒指向矢的排列。随着沟槽的振幅和盒厚的改变,沟槽表面与左右边界的相互作用形成了液晶盒内面缺陷与体缺陷的相互转换。二、有序重构是液晶盒内缺陷变化的另一种特征。在小盒厚和小振幅下,液晶盒内面缺陷和体缺陷均会发生有序重构,在双轴性图上可以明显的看到缺陷的扩散。面缺陷和体缺陷的力曲线图也很好的符合了实验力曲线的特性。在发生有序重构的液晶盒内,指向矢相互正交的两个单轴态之间会存在很小的本征矢转动层,这个转动层会随着沟槽的波峰波谷起伏,而且对应的双轴性图也可以看到缺陷在扩散的同时随着沟槽的波峰波谷上下起伏。三、其它结论。液晶盒左右边界影响液晶盒内的面缺陷的合并方向和体缺陷的符号。液晶盒内,不同几何条件的面缺陷和体缺陷在实验上很难探测到。在大盒厚条件下,液晶盒内的缺陷出现了最大双轴性降低的现象。