模数转换器(Analog-to-Digital Converter,ADC)和数模转换器(Digital-to-Analog Converter,DAC)是模拟量与数字量接口的关键器件。通信、信号处理、仪器仪表、雷达等领域的飞速发展使得高速、高分辨率ADC/DAC大量涌现,也进一步扩大了对高速、高效、高性价比的ADC/DAC测试系统的需求。高速、高精度的通用ADC/DAC测试系统的设计实现具有重要意义。本系统目的是设计并实现高速和高分辨率ADC/DAC性能参数测试系统,测试要求最高采样率3.6GS/s,最高分辨率16位。本文首先介绍数据转换器的性能参数以及其评估原理和方法,然后设计数据转换器测试验证系统结构,并分别为ADC和DAC设计不同的测试场景,以应对不同性能参数的测试环境要求。根据GPIB总线系统的工作原理,搭建测试设备集中控制环境,利用GPIB接口连接计算机与测试设备,并使用VISA库函数向仪器发送编程控制命令,取回测量结果,以实现主控计算机平台对整个系统的自动控制。接着,本文确定了将测试系统核心平台进行模块化设计的方案,将高速数据处理平台分为数据处理和通信控制两个模块,分别在FPGA和ARM平台上进行设计,应用FPGA Virtex6搭建数据处理系统,利用ARM S3C6410平台设计通信控制系统,使得高速数据处理平台能够实现百兆工作时钟下的信号采集和数据处理工作。对于不同的ADC/DAC测试对象,只需更换测试子板,而不需更换测试系统的硬件平台,使得系统能够满足可重构性的要求。最后,本文基于Lab Windows/CVI开发环境,使用C语言设计数据转换器测试系统控制软件,并结合系统功能,从用户使用角度出发,设计ADC/DAC测试的人机交互界面,对测试芯片发出控制命令,取回测试数据,计算性能参数并显示。然后以AD9268,ADC12D1800,AD9739,AD9959等商用高速高分辨率数据转换器芯片作为测试案例,从高速、高精度两个方面对系统进行测试验证。测试系统可以满足设计要求,能够为高速高分辨率ADC/DAC测试提供一个良好的平台。