随着电子产品质量水平的迅速提高,国际和国内元器件质量和可靠性水平上升到新阶段。在生产过程中,工序是保证质量的基本环节,工序能力分析是质量管理中的一项重要的技术基础工作。搞好工序能力分析,有助于随时掌握生产中各工序的质量保证能力,为产品开发、工艺设计、设备维修改造和提高产品质量提供必要的资料和依据。工序能力一般用工序能力指数(Cpk)来表示,工序能力分析是通过计算工序能力指数实现的,可以根据工序能力指数的大小对工序的加工状况做出判断。本文选取工序能力指数为研究对象,采用数值模拟计算的方法,在产品特征参数的计算、合格产品特性参数分布和成品率之间的关系、工序能力指数置信区间的分布状况以及嵌套分布数据特征参数分布等方面做了详细研究。并且讨论了样本容量变化对产品特性参数分布的影响,得出了在一定置信水平下置信区间随着样本的变化规律,以及嵌套分布数据特征值的分布规律。