作为一种稳健的空间填充设计，均匀设计在现代科学试验中得到了广泛的应用，其理论也日趋系统和完善.为量化设计的均匀性，各类文献定义了多种偏差来衡量一个单位立方体中点集（设计）的均匀性，这些偏差不仅在均匀设计理论和应用中起着至关重要的作用，并且在拟蒙特卡罗方法中也起着非常重要的作用。每一个偏差都有其优点，同时不可避免的存在一些缺点。　　本文中，我们由被广泛使用的L2-星偏差，中心化L2-偏差(CD)，可卷偏差(WD)出发，总结和分析了这些偏差存在的缺点及其产生的原因。研究了对称化L2-偏差(SD)的优良性。发现在衡量设计的均匀性时，SD在直观上及覆盖率方面有其自身的特点和优势。　　另外本文还研究了SD的其他性质，如:SD不同形式的表达式;SD与正交B-准则及与GMA准则近似等价性；最后给出了SD基于相遇数形式的表达式下界新的证明，并在此基础上给出了2，3水平下，U-型设计的SD下界，这为SD下均匀设计的搜索和构造提供了理论上的支持。