论文部分内容阅读
早在上世纪九十年代初,人们就观察到Fe/Si多层膜的层间耦合现象。在接下来的二十年中,人们致力于其机理的研究。但直到现在,对于Fe/Si多层膜层间耦合机理的认识仍然存在较大的争论。本文在研究Fe/Si多层膜层间耦合的基础上,通过退火和掺杂,探讨了界面扩散对层间耦合的影响。采用磁控溅射的方法制备了中间层分别为P型、N型及本征Si的Fe/Si多层膜。测量这些样品的磁性质,观察到完全相同的层间耦合现象,且此现象与文献叙述吻合。制备态样品的大角X射线衍射谱显示多层膜中Fe层的衍射峰对应的