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该文主要研究可编程逻辑器件(PLD)的测试生成问题.该文在分析和总结了现有的测试生成策略的基础上,综合了以往算法的优点,针对PLD交叉点故障模型的特殊性,提出了一个得洁、易实现的测试生成算法.而在整个器件的测试生成中则利用了演译故障模拟来指导式生成进程.在最后,利用故阳模拟所得的信息,应用一个启求解集合最小覆盖的启发式函数方法对测试集进行压缩,以在测试集大小和测试生成速度两者之间取得权衡.